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集成老化测试系统是一款针对Flash存储器件通用的、高并测数、宽温度规模的自动化老化测试解决计划。
集成老化测试系统主要包括服务器、Chamber、主控板、BIB板以及Hander。通过Handler举行芯片的loading/unloading及测试后分类等自动化操作；其服务器UI可以对每个槽位举行自力或并行的控制。
配套软件
软件系统为自研老化测试平台，可凭证差别产品程式化控制老化要害参数，以及凭证差别测试需求，编辑差别的测试Pattern。并可UI显示及导出老化测试效果。
应用终端
本装备主要应用于半导体行业，面向Memory BI测试领域，适用于IC封测厂封装后的器件量产老化测试。
· 并行测试效率高
支持多个Burn-in Board并行功效测试，每个Burn-in Board最大支持256个DUT。Nor Flash芯片测试速率高达133MHz。
· 自动上下料
自带Handler提供芯片Load/Unload功效及分Bin，支持叠料检测及测试后NG物料分选功效。
· 装备自�；�
支持电源监控和过压�；ぁ⑽露燃嗫睾凸卤；�。
· 支持系统调试
支持系统的诊断、校准，并提供响应的工具提升数据剖析的效率。
· 可扩展性高
通过替换Burn-in Board可以支持NOR Flash/Nand Flash等芯片的测试，降低客户本钱。
· 匀温测试
腔室温度匀称性可达±3℃，增添DUT测试一致性。
在测试机基础上，用户可以替换Burn-in Board或Socket举行该老化测试系统的更新升级。
应用实例
本产品已乐成应用于Nor Flash芯片的BI测试。
手艺升级&储备
为了延伸客户的装备使用寿命、降低客户替换本钱，我们在原有的JH5301测试机的基础上举行了BIB单板和主控板的扩睁开发设计�？突е恍枰婊惶囟ǖ腂IB单板和主控板，知足芯片厂家对Nor Flash芯片差别的测试需求。
· 原质料品质包管：要害物料选用一线品牌高端质料和半导体领域高端SMT工艺，且经由可靠性认证。
· 7×24h响应：本土AE/FAE团队，7*24H电话及现场响应，危害实时排查，保内免费替换。
· 定制化服务：凭证客户需求，可提供DUT测试应用的定制开发、全流程定制化BI测试解决计划。
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