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显示驱动芯片晶圆探测自动测试装备是一款集成磷七性能自力测试通道的CP测试机，用于对Driver IC的电性能测试，包括DC参数测试、AC参数测试以及Function测试。装备测试效率高，具备并行测试能力，可同时对多个DUT并行测试，且每个测试通道可自力处置惩罚测试需求 ；适用芯片规模广，具有可扩展的平台架构，通过无邪设置可实现一机多用，知足多种差别类型芯片的测试需求。测试准确率高，设置有PPMU、时序校准、DC丈量校准等功效�？�，可实现精准pattern和高精度参数丈量。设置DFT向量测试功效，能知足DFT测试需求。上述功效特点，使其具备更广的测试笼罩率、更高效的测试效率和更精准的测试效果，可资助用户提升芯片良率，降低综合测试本钱。
本装备测试时需搭配探针台�？�
该测试装备的配套软件为精鸿自主研发的CP TEST SYSTEMV1.0，支持工程师和生产两种事情模式，既可用于研发阶段芯片功效验证，又可用于批量生产测试。
本装备主要应用于半导体行业，面向Driver IC CP测试领域，知足Driver IC客户和第三方封测厂的测试需求。
· 高丈量精度
设置有PPMU、时序校准、DC丈量校准等功效�？�，可实现精准pattern和高精度参数丈量，为客户提供更高的丈量精度和测试可靠性。
· 友好交互界面
自主研发UI控制界面，为客户提供操作简朴、界面友好的交互体验。
· 高并行测试效率
设计有针对存储器CP测试系统PMU单位的Per Pin架构，可实现对整机设置的936个IO通道的并行测试，资助用户加速测试时间，提升测试效率，降低综合测试本钱。
· 可定制测试流程
设置可定制化系统控制�？�，支持可定制的测试流程，即支持用户自界说存储芯片的功效和逻辑测试项、支持开放接口由用户开发外设控制的测试项，最终实现用户凭证测试需要和测试妄想，定制整体测试流程。
· 支持DFT测试
设置DFT向量测试功效，可配合DFT设计端配合开发测试向量，将WGL等向量文件转换成pattren，举行流程化测试知足客户DFT测试需求。
在使用显示驱动芯片晶圆探测自动测试装备举行CP测试时，需搭配探针台、探针卡等配套装备/器件使用，客户可凭证需要自行购置或委托我司设置。
已乐成应用于Driver IC芯片的CP测试。
在现有手艺基础上，开发用于大批量生产测试的机型，提升并测数，降低用户综合测试本钱。
· 原质料品质包管：要害物料选用一线品牌高端质料和半导体领域高端SMT工艺，且经由可靠性认证。
· 7×24h响应：本土AE/FAE团队，7*24H电话及现场响应，危害实时排查，保内免费替换。
· 定制化服务：凭证客户需求，可提供DUT测试应用的定制开发、全流程定制化ATE测试解决计划。
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