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存储器最终自动测试装备提供了一种集成崎岖温老化、FT测试、自动上下料于一体的系统级测试解决计划，主要用于对封装后的存储器件举行高速批量化的功效测试，资助客户快速筛选出不良品。存储器最终自动测试装备包括Tester、电气柜，通过替换差别DSA和COK套件来支持差别类型的器件测试。最高测试速率可达11.6Gbps、PEM I/O最高测试速率可达400MHz/800Mbps，最大可同时对512个器件举行测试,最多拥有9216 PEM I/O通道和1728个DPS通道，具有高精度，可重复性和高效故障检测能力。
本装备既可用于大批量生产测试，也可用于芯片设计工程验证，批量测试时需搭配Handler一起使用。
该装备的配套软件为精鸿自主研发的FINAL TEST SYSTEM。本软件既可用于研发职员对在芯片设计阶段举行工程验证，开发调试；也可用于对封装后的芯片举行大批量生产测试，包管出厂芯片的及格率，包管芯片品质。
本装备主要应用于半导体行业封装测试领域中的后道测试，面向芯片设计公司、芯片制造公司、IDM厂商、封测厂等客户需求，对存储器件举行高效率的功效和性能测试。
· 可测试器件类型多
笼罩主流存储芯片测试，测试器件类型包括NOR/NAND/DRAM/eMMC/eMCP/UFS/uMCP/SSD等。
· 高精度丈量
设置诊断校准�？�，诊断装备状态，同时对IO通道做AC/DC校准，提高丈量精度。
· 高并行测试效率
存储器高速FT测试系统PMU单位的Per Pin架构，设置了9216个I/O通道，可以实现所有通道的并行测试，大大提高测试效率，知足量产测试需求。
· 可无邪设置
支持ETS（Engineer Test Station）和整机敏活设置，知足工程测试和量产封装测试需求。
· 可扩展性高
支持业界通用或者定制化workload测试，匹配恒久的大带宽读写和高无邪度的压力测试。
· 兼容老化测试
本装备同时支持-40℃～125℃温度规模内的老化测试，能够顺应客户现场差别测试情形的测试需求。
· 高集成度
可与行业主流的Handler对接，举行高效率自动上下料，支持三温测试和器件分选。
在使用 Memory FT ATE举行FT测试时，可按需搭配分选机Handler等配套装备/器件搭配使用，客户可凭证需要自行购置或委托我司设置。
产品配套表
本产品已乐成应用于对UFS芯片的FT、BI一体化测试。
本装备测试工具主要包括NOR/NAND/DDR/eMMC/eMCP/SSD/UFS/uMCP等存储类器件，未来可向SoC器件FT测试扩展。
· 原质料品质包管：要害物料选用一线品牌高端质料和半导体领域高端SMT工艺，且经由可靠性认证。
· 7×24h响应：本土AE/FAE团队，7*24H电话及现场响应，危害实时排查，保内免费替换。
· 定制化服务：凭证客户需求，可提供DUT测试应用的定制开发、全流程定制化ATE测试解决计划
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